測試

 

Polar UK: Atlas Si VNA PCB Insertion Loss measurement system

適用於ANRITSU VNA的Atlas符合IPC TM650 2.5.5.12（確定高速印刷電路板上信號損失量的測試方法），並為INTEL的最新一代Delta-L測試方法提供了支持。

Atlas Si是專為PCB製造商和OEM設計的高精度插入損耗測量套件。 它提供了基於頻率的傳輸線損耗的準確，可重複的測量，使製造商能夠滿足嚴格的目標，即在運行高達43 GHz高速信號的最新高速芯片組的範圍內保持信號完整性

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA 系列為RF和微波網絡分析應用程序實現了更高水平的功能，靈活性和價值。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA為50 kHz至43.5 GHz的測量提供出色的性能。 這些儀器非常適合測試具有通用VNA要求的無源和許多有源組件。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA技術和設計專業知識，可在有效包裝，緊湊且堅固的VNA儀器中實現出色的動態範圍，校準和測量穩定性以及速度性能。

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA

  • 帶有時間選通選項的時域使寬帶設備中的故障識別更加輕鬆快捷
  • 獲得專利的非線性傳輸線（NLTL）技術提供了比競爭技術更寬的帶寬和更高的動態範圍，從而在更長的校準間隔之間實現了更高的測量精度和可重複性
  • 多種校準方法可供選擇，以最適合您的應用– SOLT，SOLR，SSLT，SSST，LRL，LRM或Thru update
  • Precision AutoCal™或SmartCal™，提供一種簡單的一鍵式VNA校準自動方法
  • 消除了對過度指定的高端VNA的需求，這些產品具有生產測試不需要的額外功能
  • Anritsu的Extended-KTM連接器使ShockLine頻率選項43 VNA能夠以K / 2.92 mm兼容尺寸提供高達43.5 GHz的性能保證

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Note: Anritsu Corp., USA are the sole owners of following trade marks for ShockLine™, AutoCal™, SmartCal™ and Extended-KTM

Polar UK: Atlas Si – 針對PCB製造商和Si工程師的PCB插入損耗測試

POLAR Atlas軟件使PCB製造商能夠在嚴格控制的生產環境中測試PCB傳輸線的損耗。 當與適當定制設計的測試樣片和高頻高精度GHz探頭組件結合使用時，Atlas採用數學處理技術*提取與頻率有關的損耗特性。

Atlas軟件包可與行業標準TEKTRONIX DSA8300或DSA8200基於示波器的TDR接口。 製造商可以選擇將Atlas添加到他們現有的TEKTRONIX DSA中，或者POLAR可以提供turnkey package。

Atlas支持多種測試方法，包括INTEL的Delta-L，Delta-L 3線路，SET2DIL（單端TDR到差分插入損耗），用於從差分4端口測試或SET2SEIL（單端）提取差分插入損耗和有效Er。 TDR到單端插入損耗）方法。 此外，Atlas還支持IBM的SPP（短脈衝傳播）方法以減少損耗並有效提取Er。 IPC-TM-650中概述了所有需要測試的，定制的OEM指定的測試和測試車間測試樣品板詳細信息。

Atlas的主要特點

  • Atlas軟體旨在協助PCB製造商在PCB生產環境中準確，可重複地測量PCB傳輸線損耗。
  • 符合人體工程學的探頭外殼
  • 跟踪系統上升時間並監視系統帶寬。
  • Delta-L技術（v16_04將Delta-L的rev2p31與當前設置和參數完全結合在一起）使用長線短線測量與創新的過孔去嵌入技術相結合，Delta-L提供了一種消除過孔效果的可靠方法 表徵原始PCB的插入損耗時，根據差分（混合模式）s參數得出的誤差。
  • SET2DIL / SET2SEIL-Atlas測試方法還包括SET2DIL（單端TDR到差分插入損耗）和SET2SEIL（單端TDR到單端插入損耗）測試方法，用於從單端測量中提取差分插入損耗。
  • SPP –短脈衝傳播-SPP允許提取影響信號傳播的PCB電氣特性； 它使用您現有的TDR / TDT設備，並產生與頻率相關的參數，例如傳播常數（α，衰減和β，相位常數）和有效介電常數，以及特徵阻抗（包括偶數和奇數模式阻抗）。Atlas測量包括launch point exrrapolation/長線回歸fit。
  • 控制阻抗測試-Atlas GHz測試軟件還可以進行傳統的無損控制阻抗測試

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POLAR：新CITS880s - 可控阻抗測試系統解决方案

CITS880s系統是Polar Instruments Ltd, UK第9代阻抗測試系統。這是給需要精細測量的軌跡及薄銅阻抗的解決方案。 CITS880s設有Launch Point Extrapolation (LPE)，外接的TDR能夠更準確地測量線路的瞬時或阻抗的開始。除了Launch Point Extrapolation (LPE)外，CITS880s也能夠檢測shorter traces - 通常為2至3英寸比前幾代CITS系列較為短。 CITS880s現在提供重新設計且由防靜電耗材精密成型製造的IPS和IPDS高速探棒。以給CITS給予最大程度的保護。

Polar的IPS和IPDS高速探棒，是專門設計用於CITS880s。他們修改了內部，使用更堅固的機械設計及改進了信號路徑，符合人體工程學並使用100％的防靜電耗材的精密模壓成型。 IPS和IPDS探針與前一代的探針容易地識別，使用藍色標籤及藍色的對比抗蝕探針於探棒接口上。

点击这里看看有什麼新的CITS880s

PWB: IST HC- 互連壓力測試系統

互連應力測試或IST是加拿大PWB Interconnect Solutions Inc.開發的一種加速應力測試方法，它克服了熱烘箱或液體/液體測試方法的局限性。它具有有效，快速地量化包括微孔在內的不同類型通孔完整性的能力。 IST從基板內部產生均勻的應變，並且互連能力可以分配和重新分配此應變，這表明完整性。電鍍的槍管和內層接合處將被“執行”，直到未發現初始故障模式/機制。

IST HC使用IST技術對試樣進行電循環以確定產品的可靠性。除了支持IPC測試方法2.6.26，最新的IST HC現在還支持IPC測試方法2.6.27來模擬無鉛焊料裝配。 IST HC可以模擬回焊爐和組裝重工站的溫度曲線，以使測試樣板在組裝過程中經受與實際印刷電路板相同的溫度偏移。

IST已成為通孔和材料可靠性的領先測試標準。世界各地的頂級OEM，ODM，CDM，PCB材料和PCB製造商都使用IST技術來測試新的過孔/互連技術，材料和工藝。

該測試系統結合了定制設計的電源和高精度測量系統，這些系統與易於使用的應用軟件相連接，該軟件可以自動測量，記錄，分析帶有顯示和報告的數據，從而簡化了對定制設計測試車間/可靠性的理解。代表實際產品的樣品板

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CAF（導電陽極絲）測試儀

CAF是一款全自動台式CAF測量設備，具有RH控制，溫度控制，V偏置控制，自定義配置文件和遠程報告。

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DELAM-介電質估計和層壓分析測量系統

DELAM自動測量和分析材料特性的變化，這表明損壞是否是由於暴露於與組件組裝和可能的重工相關的高溫引起的

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Polar GmbH: RITS550/RITS880 – 自動化特性阻抗測量系統

奧地利POLAR GMBH製造的RITS550使行業標準CITS880s（受控阻抗測試系統）自動化，從而可以快速，可重複地對試樣和PCB進行樣品板測試。該系統通過易於使用的Windows軟件進行控制。測試設置簡單明了，結果數據以可訪問的格式自動記錄，並且有內置的報告生成器選項。

準確，可追溯的測量RITS550使用成熟的時域反射儀（TDR）技術來測量快速上升時間脈衝的反射。高精度參考空氣芯-可追溯到NPL（英國國家物理實驗室）和NIST（美國國家標準與測試研究所）標準，可確保可重複的測量精度以控制線路阻抗。

RITS550飛行探針技術的測試時間與基於夾具的系統一樣快，可提供無與倫比的測量可重複性，而終身擁有成本僅為基於夾具的系統的一小部分。 RITS550非常適合於試樣測試或小尺寸電路板測試。

RITS880自動阻抗測量系統是一個大型平台，可容納按需定制的全尺寸PCB面板。它可以合併全尺寸的面板（是RITS550的較大版本），並且可以選擇配備自動上/下板機，從而為阻抗測試提供完全自動化的功能。

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IHARA：ACCULINE II-可攜式線寬和間距測量

日本Ihara Electronics最新推出的ACCULINE II是一款真正的可攜式，輕便，電池供電的數字線寬和間距測量系統。 ACCULINE的內置彩色LCD顯示屏使操作員可以在進行全面處理之前，對頂線和底線的寬度和間距進行快速，準確和可重複的測量，以測量細線單端和差分控制的阻抗跡線，尤其是PCB面板的內層。 它使在任何位置（包括可見度低的黑暗房間）的操作都變得容易。 大型LCD可以顯示真實的線條圖像，可以使用USB端口將其傳輸到PC進行進一步分析。

通常，操作員依賴於使用顯微鏡進行測量的技能，這可能導致不同操作員得到不同的結果。 ACCULINE的自動測量算法可提供準確而可重複的結果。

                                                                                                             

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C.L. Tech: 通用網格系統（UGS）–開路短路測試儀（僅在印度提供）

擁有30多年的經驗和知識Tech提供全系列的通用網格系統，可以靈活地使用市場上大多數的夾具模型和數據準備。該系統的量身定制的電子設備可提供機械強度，速度和可靠性。

通用網格機提供兩種技術：

  • 插件：掃描儀板集成在測試區域中。
  • 有線：掃描儀板通過電線連接到測試區域。

GT20-20和Valid8機器使用集成在測試區域中的測試板，而Precise和Micro使用朝向測試區域的電線連接。

GT20-20可以配備用於安裝和卸載的自動皮帶系統，可以在現場安裝。這使機器可以達到每小時1,000 PCB / h的生產率，或者使用自動臂系統達到450 PCB / h的速度。對於任何提到的密度，可用的測試區域為325mm X 285mm（12.8“ x 11.2”），427mm X 325mm（16.8“ x 12.8”）。其他測試區域配置可按需提供。

對於任何密度，Valid8的最大測試面積為488mm X 406mm（19.2“ x 16”）。 下級和上級活動區域。 它是為測試大型PCB格式而開發的系統，具有大量測試點，如背板，服務器板，母板等。

即使在定制要求下，任何網格step都可以提供精確的測量結果，最大測試區域為610mm X 508mm（24“ x 20”），測試點的數量為48.000（每個測試區域）。

Micro可提供單密度或雙密度網格。 最大測試區域為365mm x 284mm（14.4“ x 11.2”），最大測試點數為32.256（用於測試區域）。

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C.L. Tech: 飛探針測試儀（FPT）–開路短路測試（僅在印度提供）

C.L. TECH提供了一系列可以滿足客戶需求的Flying Probes開放式短路測試儀。

精密飛針測試儀的範圍從FP2 Plus +系統開始，該解決方案適用於那些希望在不放棄質量和性能的情況下謹慎對待預算的人。 XL和XXL版本用於測試最大1.200 mm的大型電路； 範圍達到FP8，採用花崗岩框架以確保最高的速度和精度，它能夠使用測試點測試最小38μm（150 mil）的高密度電路

所有飛針系統都可以通過TFI（測試平台集成）功能與通用網格系統集成，從而可以充分利用兩種產品提供的協同作用，例如組合測試，重新測試，錯誤檢查， 等等

 

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