测试

 

Polar UK: Atlas Si VNA PCB Insertion Loss measurement system

Atlas for Anritsu VNA符合IPC TM650 2.5.5.12(确定印刷电路板上信号损耗量的测试方法),并为Delta-L方法提供了支持。

Atlas Si是一种精密的插入损耗测量套件,专门为PCB制造商和OEM设计。它提供了基于频率的传输线损耗的准确,可重复的测量,从而使制造商能够满足将信号完整性保持在最新43 Ghz高速芯片组范围内的严格目标。

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA 在RF和微波网络分析应用中实现了更高水平的功能,灵活性和价值,从50 kHz到43.5 GHz的测量提供了卓越的性能。这些仪器非常适合测试具有通用VNA要求的无源和许多有源器件。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA技术和设计专业知识,达到卓越的动态范围,校准和测量稳定,和速度性能有效地打包,紧凑且坚固的VNA仪器。

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA 

  • ·         带有时间gating选项的时域可在宽带设备中更轻松,更快地识别故障
  • ·         获得专利的非线性传输线(NLTL)技术提供了比竞争技术更宽的带宽和更高的动态范围,从而在更长的校准间隔之间实现了更高的测量精度和可重复性
  • ·         多种校准方法可供选择,以最适合您的应用– SOLT,SOLR,SSLT,SSST,LRL,LRM或Thru update
  • ·         Precision AutoCal™或SmartCal™,可轻松实现一键式VNA校准自动方法
  • ·         消除了对过度指定的高端VNA的需求,这些产品具有生产测试不需要的额外功能
  • ·         Anritsu的Extended-KTM连接器支持ShockLine频率43 VNAs选件,以兼容K / 2.92 mm的尺寸并提供高达43.5 GHz的性能

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Note: Anritsu Corp., USA are the sole owners of following trade marks for ShockLine™, AutoCal™, SmartCal™ and Extended-KTM

Polar UK: Atlas Si – 针对PCB制造商和Si工程师的PCB插入损耗测试

Polar Atlas软件使PCB制造商能够在严格控制的生产环境中测试PCB传输线的损耗。当与适当设计的测试样片和Atlas精密GHz探头组件结合使用时,Atlas采用数学处理技术*提取与频率有关的损耗特性。

Atlas软件包可与行业标准的Tektronix DSA8300或DSA8200示波器TDR进行接口。制造商可以选择将Atlas添加到他们现有的Tek DSA中, 也可以选择Polar提供全套解决方案。

Atlas支持多种测试方法,包括Delta-L,Delta-L 3 Line,SET2DIL(单端TDR到差分插入损耗),用于从单端测试和经过适当设计的试样中提取差分插入损耗和有效Er,SET2SEIL方法(单个端TDR到单端插入损耗),用于IPC-TM-650所要求的单端插入损耗测试和SPP(短脉冲传播)方法

主要特点

  • Atlas软件旨在帮助PCB制造商在PCB生产环境中准确,可重复地测量PCB传输线损耗。
  • 符合人体工程学的探头外壳:
  •  跟踪系统上升时间并监视系统带宽。
  • Delta-L-Atlas支持Delta-L技术(v16_04完全将Delta-L的rev2p31与当前设置和参数结合在一起),该技术使用长线短线测量与创新的去嵌入技术相结合,Delta-L提供了确定原始PCB插入损耗的合理方法,可消除差动(混合模式)s参数的过孔影响。
  • SET2DIL / SET2SEIL-Atlas测试方法还包括SET2DIL(单端TDR到差分插入损耗)和SET2SEIL(单端TDR到单端插入损耗)测试方法,用于从单端测量中提取差分插入损耗。
  • SPP –短脉冲传播-SPP允许提取影响信号传播的PCB电气特性;它使用您现有的TDR / TDT设备,并产生与频率有关的参数,例如传播常数(α,衰减和β,相位常数)和有效介电常数,以及特征阻抗(包括偶数和奇数模式阻抗)。Atlas测量包括发射点外推/长线回归拟合。
  • 受控阻抗测试-Atlas GHz测试软件还可以进行传统的无损受控阻抗测试

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POLAR:新CITS880s - 可控阻抗测试系统解决方案

CITS880s系统是Polar Instruments Ltd, UK第9代阻抗测试系统。这是给需要精细测量的轨迹及薄铜阻抗的解决方案。 CITS880s设有Launch Point Extrapolation (LPE),外接的TDR能够更准确地测量线路的瞬时或阻抗的开始。 除了Launch Point Extrapolation (LPE)外,CITS880s也能够检测shorter traces - 通常为2至3英寸比前几代CITS系列较为短。 CITS880s现在提供重新设计且由防静电耗材精密成型制造的IPS和IPDS高速探棒。以给CITS给予最大程度的保护。

Polar的IPS和IPDS高速探棒,是专门设计用于CITS880s。他们修改了内部,使用更坚固的机械设计及改进了信号路径,符合人体工程学并使用100%的防静电耗材的精密模压成型。 IPS和IPDS探针与前一代的探针容易地识别,使用蓝色标签及蓝色的对比抗蚀探针于探棒接口上。 

点击这里看看有什么新的CITS880s

PWB: IST HC - 互连压力测试系统

 

互连应力测试或IST是加拿大PWB Interconnect Solutions Inc.开发的一种加速应力测试方法,它克服了热烘箱或液体/液体测试方法的局限性。它具有有效,快速地量化包括微孔在内的不同类型通孔完整性的能力。IST从基板内部产生均匀的应变,并且互连能力可以分配和重新分配此应变,这表明完整性。电镀的枪管和内层接合处将被“执行”,直到未发现初始故障模式/机制。

IST HC使用IST技术对试样进行电循环以确定产品的可靠性。除了支持IPC测试方法2.6.26,最新的IST HC现在还支持IPC测试方法2.6.27来模拟无铅焊料装配。IST HC可以模拟回流炉和组装返工站的温度曲线,以使测试样板在组装过程中经受与实际印刷电路板相同的温度偏移。

IST已成为通孔和材料可靠性的领先测试标准。世界各地的顶级OEM,ODM,CDM,PCB材料和PCB制造商都使用IST技术来测试新的过孔/互连技术,材料和工艺。

该测试系统结合了定制设计的电源和高精度测量系统,这些系统与易于使用的应用软件相连接,该软件可以自动测量,记录,分析带有显示和报告的数据,从而简化了对定制设计测试可靠性的理解,代表实际产品的测试样品。

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CAF(导电阳极丝)测试仪

CAF是一款全自动台式CAF测量设备,具有RH控制,温度控制,V偏压控制,自定义配置文件和远程报告功能。

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DELAM-介电估计和层压分析测量系统
DELAM自动测量和分析材料特性的变化,这表明损坏是否是由于暴露于与组件组装和可能的返工相关的高温引起的

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Polar GmbH: RITS550/RITS880 – 自动阻抗测量系统

RITS 550使行业标准CITS880s(受控阻抗测试系统)自动化,从而可以快速,可重复地对试样和PCB进行体积测试。该系统通过易于使用的Windows软件进行控制。测试设置简单明了,结果数据以可访问的格式自动记录,并且有内置的报告生成器选项。

准确性,可追溯的测量RITS550使用成熟的时域反射仪(TDR)技术来测量快速上升时间脉冲的反射。高精度参考航空公司-可追溯到NPL和NIST 标准-确保可重复的测量精度,以控制跟踪阻抗

RITS550飞行探针技术的测试时间与基于夹具的系统一样快,可提供无与伦比的测量可重复性,而终身拥有成本仅为基于夹具的系统的一个小部分。RITS550理想地适合COUPON测试或体积小板测试。

RITS880是按订单制造的自动阻抗测量系统,它是RITS550的较大版本。 它可以合并完整尺寸的面板,并可以配备自动上/下板机, 以提供用于阻抗测试的完全自动化。

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Ihara: ACCULINE II - 便携式线宽和间距测量

日本Ihara Electronics Co. Ltd.推出了ACCULINE II,这是一款真正的便携式,轻便,电池供电的数字线宽和间距测量系统。ACCULINE的内置彩色LCD显示屏使操作员可以快速,准确和可重复地测量顶线和底线的宽度以及细线单端和差分控制阻抗迹线的间距。

ACCULINE II是高性能和可靠的产品,它利用先进的微型计算机技术和彩色LCD图像传感器来确保卓越的性能和测量可靠性。它是一种电池供电的工具,具有真正的便携式功能,可在包括可见度低的黑暗房间在内的任何位置轻松操作。大型LCD可以显示真实的线条图像,可以使用USB端口将其传输到PC进行进一步分析。

通常,操作员依赖于使用显微镜进行测量的技能,这可能导致不同操作员得到不同的结果。ACCULINE的自动测量算法可提供准确而可重复的结果。

                                                                                                             

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C.L. Tech: 通用网格系统–开放式短路测试仪(仅在印度)

凭借30多年的经验和知识,CL Tech提供了全方位的通用网格系统,可以灵活地使用市场上大多数的夹具模型和数据准备。该系统的量身定制的电子设备提供了机械强度,速度和可靠性。

我们的通用网格机具有两种技术:

  • 插件:扫描板集成在测试区域中。
  • 有线:​​扫描仪板通过电线连接到测试区域。

GT20-20和Valid8机器使用集成在测试区域中的测试板,而Precise和Micro使用朝向测试区域的电线连接。

GT20-20可以配备用于安装和卸载的自动皮带系统,可以在现场安装。这使机器可以达到每小时1.000 PCB /小时的生产率,或者使用自动臂系统达到450 PCB /小时的速度。对于任何提到的密度,可用的测试区域为12.8“ x 11.2” e 16.8“ x 12.8”。其他测试区域配置可按需提供。

对于任何密度,Valid8的最大测试区域为19,2“ x 16”。下级和上级活动区域。它是一个用于测试大型PCB的系统,该PCB具有大量测试点,例如背板,服务器板,母板等。

即使在客户要求下,最大测试面积为24“ x 20”,并且测试点的数量为48.000(每个测试区域),任何网格步骤都可以提供精确的测量结果。

Micro可提供单密度或双密度网格。最大测试区域为365mm x 284mm(14.4“ x 11.2”),最大测试点数为32.256(用于测试区域)。

 

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C.L. Tech: 飞针测试仪–开放式短路测试(仅在印度)

CL TECH提供了全方位的飞针,能够满足客户的需求。

精确的飞针测试仪系列从FB2 Plus +系统开始,该解决方案适合那些需要在不影响质量和性能的情况下节省预算的人,它的XL和XXL版本可以测试最大1.200mm的大型电路;范围达到FP8,采用花岗岩框架以确保最高的速度和精度,能够使用最小38μm(1.5mil)的测试垫测试高密度电路

所有飞行探针系统都可以通过TFI功能(测试平台集成)与通用网格系统完美集成,从而可以充分利用两种产品提供的协同作用,例如组合测试,重新测试,错误检查等

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