適用於ANRITSU VNA的Atlas符合IPC TM650 2.5.5.12(確定高速印刷電路板上信號損失量的測試方法),並為INTEL的最新一代Delta-L測試方法提供了支持。
Atlas Si是專為PCB製造商和OEM設計的高精度插入損耗測量套件。 它提供了基於頻率的傳輸線損耗的準確,可重複的測量,使製造商能夠滿足嚴格的目標,即在運行高達43 GHz高速信號的最新高速芯片組的範圍內保持信號完整性
Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA 系列為RF和微波網絡分析應用程序實現了更高水平的功能,靈活性和價值。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA為50 kHz至43.5 GHz的測量提供出色的性能。 這些儀器非常適合測試具有通用VNA要求的無源和許多有源組件。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA技術和設計專業知識,可在有效包裝,緊湊且堅固的VNA儀器中實現出色的動態範圍,校準和測量穩定性以及速度性能。
Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA
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Note: Anritsu Corp., USA are the sole owners of following trade marks for ShockLine™, AutoCal™, SmartCal™ and Extended-KTM