適用於ANRITSU VNA的Atlas符合IPC TM650 2.5.5.12(確定高速印刷電路板上信號損失量的測試方法),並為INTEL的最新一代Delta-L測試方法提供了支持。
Atlas Si是專為PCB製造商和OEM設計的高精度插入損耗測量套件。 它提供了基於頻率的傳輸線損耗的準確,可重複的測量,使製造商能夠滿足嚴格的目標,即在運行高達43 GHz高速信號的最新高速芯片組的範圍內保持信號完整性
Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA 系列為RF和微波網絡分析應用程序實現了更高水平的功能,靈活性和價值。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA為50 kHz至43.5 GHz的測量提供出色的性能。 這些儀器非常適合測試具有通用VNA要求的無源和許多有源組件。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA技術和設計專業知識,可在有效包裝,緊湊且堅固的VNA儀器中實現出色的動態範圍,校準和測量穩定性以及速度性能。
Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA
- 帶有時間選通選項的時域使寬帶設備中的故障識別更加輕鬆快捷
- 獲得專利的非線性傳輸線(NLTL)技術提供了比競爭技術更寬的帶寬和更高的動態範圍,從而在更長的校準間隔之間實現了更高的測量精度和可重複性
- 多種校準方法可供選擇,以最適合您的應用– SOLT,SOLR,SSLT,SSST,LRL,LRM或Thru update
- Precision AutoCal™或SmartCal™,提供一種簡單的一鍵式VNA校準自動方法
- 消除了對過度指定的高端VNA的需求,這些產品具有生產測試不需要的額外功能
- Anritsu的Extended-KTM連接器使ShockLine頻率選項43 VNA能夠以K / 2.92 mm兼容尺寸提供高達43.5 GHz的性能保證
下載ATLAS 手冊
Note: Anritsu Corp., USA are the sole owners of following trade marks for ShockLine™, AutoCal™, SmartCal™ and Extended-KTM